Vom 7. bis 11. August 2023 fand die 72nd Denver X-ray conference on Applications of X-ray mit insgesamt 375 Teilnehmenden Analysis in Lombard bei Chicago in den USA statt. Die Konferenz findet jährlich statt. Sie ist einzigartig durch die große Ausstellung von Gerätekomponentenherstellern. Die Konferenz wird vom ICDD dem International Center of Diffraction Data und dem MDI Material Data organisiert.
Der Arbeitskreis war mit sechs Beiträgen und vier Teilnehmenden vertreten: Sophie Wunderlich, Alena Schnickmann, Sven Hampel und Ursula Fittschen. Die Beiträge wurden sehr gut aufgenommen. Sophie Wunderlich hat in ihrem Hauptvortrag neueste Ergebnisse zum Vanadiumrecycling von Stahlwerksschlacken, die an der Swiss Light Source (SLS) gewonnen wurden, vorgestellt. Alena Schnickmann und Sven Hampel haben über ihre Ergebnisse, die im Rahmen des DFG Schwerpunktprogramms SPP 2315 zu engineered artificial minerals (EnAM) entstanden sind, referiert. Sven Hampel hat außerdem einen weiteren Vortrag zur Untersuchung der Ionendiffusion in Polymerelektrolytmembranen gehalten und ein Poster zu seinen Arbeiten zum Bau und Einsatz eines picoliter Druckers präsentiert. Er ist für seine Arbeiten mit insgesamt drei Preisen und $1250 geehrt worden.
Ein weiteres Highlight war die Verleihung des Jenkins Awards für das Lebenswerk an Prof. Dr. Tim Elam, der nicht nur eine Datenbank von Röntgenfundamentalparametern aufgestellt hat, sondern zurzeit vor allem die Auswertung der Mikro-RFA Daten der jüngsten Marsmission des Perseverance Rovers der NASA betreut. Die nächste Denver Conference wird 2024 wieder nach Colorado zurückkehren, nach Westminster bei Denver.
